EIGER X混合像素光子計(jì)數(shù)X射線探測(cè)器?
維修EIGERX射線探測(cè)器
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1、產(chǎn)品特點(diǎn)：
我們一直持續(xù)致力于不斷的探索研究去突破技術(shù)壁壘，以獲得更為**的測(cè)試過(guò)程及測(cè)試裝置，使測(cè)試性能趨于**。目前我們?cè)谕絻x器及科學(xué)研究領(lǐng)域所取得的巨大成就已充分證明了這一點(diǎn)。
新型的EIGER X 系列探測(cè)器可以為要求*為苛刻的同步應(yīng)用提供的探測(cè)性能。具有連續(xù)讀數(shù)能力的千赫茲幀速率的成像能力為時(shí)分類實(shí)驗(yàn)和XPCS提供了一種全新的手段，使得像ptychography類的慢速掃描成像技術(shù)成為可能。高分辨率和連續(xù)的衍射實(shí)驗(yàn)受益于較小的成像尺寸，通過(guò)X射線的直接轉(zhuǎn)換可以獲得**的點(diǎn)擴(kuò)散函數(shù)。在理想情況下每單元面積的計(jì)數(shù)速率可以與持續(xù)增加的波速線亮度相匹配。
2、核心**：
- 混合成像計(jì)數(shù)：?jiǎn)喂庾映上裼?jì)數(shù)模式下的X射線直接轉(zhuǎn)換能力
- 千赫幀速率工作周期> 99%
- 3μs時(shí)間下的連續(xù)采集模式
- 5μm像素尺寸的高空間分辨率
- 良好的點(diǎn)擴(kuò)散函數(shù)
- 計(jì)數(shù)器每平方毫米每秒5億張
- 無(wú)讀出噪聲和暗電流
- *其緊湊的外殼
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3、應(yīng)用領(lǐng)域：
-X射線光子相關(guān)光譜(XPCS)
- Ptychography(疊層衍射)成像技術(shù)
- 時(shí)間分辨實(shí)驗(yàn)
- 大分子晶體學(xué)(MX)
- 單晶衍射(SCD)
- 粉末衍射(PD)
- 表面衍射
- 小廣角/X光散射(粉煤灰/蠟)
- X射線成像
4、技術(shù)參數(shù)：EIGER X混合像素光子計(jì)數(shù)X射線探測(cè)器
|
EIGER X
|
500K
|
1M
|
4M
|
9M
|
16M
|
|
探測(cè)器模塊數(shù)量
|
1
|
1 x 2
|
2 x 4
|
3 x 6
|
4 x 8
|
|
有效面積：寬x高 [mm2]
|
77.2 x 38.6
|
77.2 X 79.9
|
155.2 x 162.5
|
233.2 x 245.2
|
311.2 x 327.8
|
|
像素大小 [μm2]
|
75 x 75
|
|
總像素?cái)?shù)量
|
1030x514=
529,420
|
1030x1065=
1,096,950
|
2070 x 2167=
4,485,690
|
3110 x 3269=
10,166,590
|
4150X4371=
18,139,650
|
|
間隙寬度, 水平/垂直（像素）
|
-/-
|
-/37
|
10 / 37
|
10 / 37
|
10 / 37
|
|
非靈敏區(qū) [ *]
|
0
|
3.5
|
5.6
|
6.3
|
6.6
|
|
缺陷像素
|
<0.03%
|
|
*大幀頻* [Hz]
|
3000,4500**,9000**
|
3000
|
750
|
238
|
133
|
|
計(jì)數(shù)器深度 [ bit ]
|
12, 8, 4
|
12
|
12
|
12
|
12
|
|
讀出時(shí)間
|
連續(xù)讀數(shù)，3μs死區(qū)時(shí)間，工作循環(huán)>99%***
|
|
點(diǎn)擴(kuò)散函數(shù)
|
1 pixel
|
|
探測(cè)器厚度 [μm]
|
450
|
|
閾值能量 [keV]
|
2.7-18
|
|
*大計(jì)數(shù)率 [phts/s/mm2]
|
5•108
|
|
動(dòng)態(tài)范圍 [bit]
|
16 或32
|
|
數(shù)據(jù)格式
|
HDF5 / NeXus
|
|
尺寸（WHD）[mm3]
|
114 x 92 x 242
|
114 x 133 x 240
|
235 x 237 x 372
|
340 x 370 x 500
|
400 x 430 x 500
|
|
重量 [kg]
|
3.3
|
3.9
|
15
|
41
|
55
|
|
功耗 [w]
|
70
|
75
|
300
|
750
|
1200
|
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