BRUKER質(zhì)譜儀\X射線熒光光譜儀
BRUKER成立超過50年，現(xiàn)在為每個分析的任務(wù)提供*佳的技術(shù)解決方案的想法驅(qū)使BRUKER布魯克。BMT MESSTECHNIK臭氧分析儀
今天，全** 6000 多名員工正在研究這**的挑戰(zhàn)在各大洲 90 多個地點。BRUKER系統(tǒng)涵蓋廣泛的應(yīng)用在各個領(lǐng)域的研究和發(fā)展，也用在所有工業(yè)生產(chǎn)過程，以確保質(zhì)量和過程的可靠性。
BRUKER繼續(xù)建立在其廣泛的產(chǎn)品和解決方案，其廣泛安裝的系統(tǒng)的基礎(chǔ)和良好的信譽在它的客戶。作為****的分析儀器公司之一，BRUKER布魯克是堅定地致力于進一步充分滿足客戶的需求，以及繼續(xù)開發(fā)先進的技術(shù)和創(chuàng)新的解決方案，為今天的分析問題。
BRUKER公司主要產(chǎn)品：
BRUKER質(zhì)譜與分離系統(tǒng)
BRUKER MALDI-TOF 和 TOF/TOF 質(zhì)譜儀
MALDI Biotyper Systems
ESI-四*桿-飛行時間質(zhì)譜
ESI-離子阱trap質(zhì)譜儀
ESI-串聯(lián)四*桿質(zhì)譜儀
與質(zhì)譜聯(lián)用的超高壓液相和納升液相
大氣壓電離源
氣相色譜-質(zhì)譜儀
氣相色譜系統(tǒng)
ESI/MALDI-FT質(zhì)譜儀
電感耦合等離子體質(zhì)譜儀
軟件
分子振動光譜儀
FT-NIR光譜儀
FT-IR常規(guī)分析譜儀
FT-IR科研型光譜儀
FT-IR顯微鏡，拉曼顯微鏡
FT-IR/NIR進程分析儀
Raman光譜儀
遙感譜儀
Terahertz光譜儀
OPUS - Software
X-ray Diffraction and Elemental Analysis
X射線熒光光譜儀
X射線多晶衍射儀
X射線單晶衍射儀
Small-Angle X-ray Scattering
高分辨率CT
手持式熒光光譜儀
Micro-XRF and TXRF
X 射線計量學(xué)
電鏡用EDS,WDS,EBSD, Micro-XRF及CT
火花直讀光譜儀
CS/ONH-分析
BRUKER磁共振譜儀
NMR（核磁共振）
EPR (電子順磁共振)
MRI (磁共振成像)
NMR Microscopy
緊湊型 MR
時域 TD -NMR
表面分析
BRUKER原子顯微鏡
3D 光學(xué)顯微鏡
探針式輪廓儀
Fluorescence Optical Microscopy
摩擦磨損測試＆機械性能測試
移動探測
IMS
MS
FT-IR
ELISA
Radiological Detection
性能**的臨床前成像儀器
MRI (磁共振成像)
光學(xué)活體成像系統(tǒng)
PET/SPECT/CT
X光成像和微計算機斷層掃描
磁粒子成像（MPI）
BRUKER產(chǎn)品描述：
MALDI-TOF and TOF/TOF MS
BRUKER布魯克FLEX系列產(chǎn)品線是我們的旗艦產(chǎn)品
BRUKER布魯克公司FLEX系列MALDI-TOF和MALDI-TOF/TOF是**市場的技術(shù)平臺，以其超高性能、穩(wěn)定性和創(chuàng)新設(shè)計而享譽業(yè)界。作為蛋白質(zhì)測序和聚合物分析的金標準，F(xiàn)LEX系列產(chǎn)品可以提供廣闊的應(yīng)用能力，能滿足從**用戶到初學(xué)者的任何實驗室的需要。
為了使操作盡可能簡便，這些系統(tǒng)都配備了高度自動化的工作流程，以利于在*短的時間內(nèi)，對*少量樣品，獲得*多的信息。
BRUKER變換近紅外分析儀TANGO
Bruker 擁有久經(jīng)驗證的Fourie變換近紅外技術(shù)，同時結(jié)合易于使用的觸摸屏操作和較小的占地面積，是空間狹小實驗室的理想之選。
TANGO 創(chuàng)造價值。
可快速測量大量樣品、同步評估不同成分和直觀處理，無需進行**培訓(xùn)：TANGO 簡化了近紅外分析過程，從而充分保障結(jié)果的**性。專門用于既定的應(yīng)用場合，滿足對**分析儀的需求。
TANGO 直觀易用。
無需對客戶進行冗長乏味的培訓(xùn)也無需具備**知識！TANGO 簡單易用：它憑借直觀的用戶界面，指導(dǎo)操作員快速、**的完成工作流程。此外，未經(jīng)培訓(xùn)的員工也可以**、無誤的操作該光譜儀。值得一提的是，用戶界面可提供 15 種以上的語言。
簡單的樣品處理方式。
在樣品處理方面，TANGO 可以節(jié)省時間，防止發(fā)生操作錯誤。無需復(fù)雜的樣品前處理。只需將樣品注入量杯或小瓶中，即可透過玻璃完成測量。
BRUKER X射線熒光光譜儀 (XRF)
元素分析、過程和質(zhì)量控制
X 射線熒光分析 (XRF) — 是對任何種類的樣品進行元素分析的*好分析技術(shù)，**必需分析的樣品是液體、固體還是粉末。
XRF 將*高的準確度和精密度與簡單和快速的樣品準備**結(jié)合，對鈹 (Be) 到鈾 (U) 的元素喜遷分析，濃度范圍從 100 *到低至亞 ppm *。
波長色散 X 射線熒光光譜測定法 (WDXRF) 以其無與倫比的準確度、精密度和可靠性著稱。這種強大的分析技術(shù)，使其可用于所有形式的工業(yè)應(yīng)用，例如水泥、聚合物、煉油廠、采礦及工業(yè)礦物等。
在需要易用性和緊湊尺寸的質(zhì)量和過程控制中，能量色散 X 射線熒光 (EDXRF) 是專門應(yīng)用的*佳選擇。它具備研究和監(jiān)控任務(wù)所需的分析靈活性。
BRUKER公司開發(fā)并提供**的 XRF 解決方案，適用于工業(yè)和研究領(lǐng)域的所有分析任務(wù)。
The new S2 KODIAK - XRF multi-element analyzer for real-time results in mining
新的 S8 TIGER ECO - 采用 XRF 進行質(zhì)量和工藝控制實現(xiàn)經(jīng)濟性和生態(tài)性
S8 TIGER - 出眾的元素分析性能
S8 LION - simultaneous wavelength dispersive X-ray fluorescence spectrometer
S8 DRAGON - 適用于金屬生產(chǎn)流程控制的**、高速元素分析
S2 RANGER - 從鈉 到鈾 的多元素分析
BRUKER部分產(chǎn)品型號：
BRUKER AXS C79298-A3200-C2 microswitch
BRUKER AXS C79298-A3220-B213 goniometerconnection4
BRUKER AXS B105A(42V,160H)SXI-419307600-S 半導(dǎo)體； 控制板B105A
BRUKER AXS C79298A3248B33 Motor stepper with Encoder S4
BRUKER AXS C79298A3230C41 X熒光光譜繼電器
BRUKER 陶瓷材質(zhì)23*23 上陶瓷擋板
BRUKER S1 SORTER 合金分析儀
BRUKER 四個孔位，部件號020 坩堝支架
BRUKER A12D424 高壓板B20(進口） 電路板
BRUKER K160C70 S4熒光光譜儀
BRUKER A14D2 冷卻水泵電機
BRUKER DX4
BRUKER C79298A3196C2 θ角驅(qū)動電機
BRUKER C79298A3230C43 K54繼電器
BRUKER C79298A3200C2 微動開關(guān)
BRUKER K280C6 去離子樹脂
BRUKER S4 C79298A3230A35 風(fēng)扇
